歡迎訪問(wèn)北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站!熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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應(yīng)力雙折射檢測(cè)適用于多種透明材料,包括光學(xué)玻璃、塑料薄膜、半導(dǎo)體芯片以及陶瓷材料等,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)研究、產(chǎn)品質(zhì)量控制及制造工藝優(yōu)化等多個(gè)領(lǐng)域。借助于專(zhuān)業(yè)的圖像處理軟件,不僅可以獲得具體的數(shù)值結(jié)果,還能生成直觀的應(yīng)力分布圖譜,幫助研究人員更清晰地理解材料內(nèi)部的力學(xué)行為。應(yīng)力雙折...
自動(dòng)測(cè)角儀(也叫自動(dòng)角度測(cè)量?jī)x或角度測(cè)量?jī)x)是一種用于高精度測(cè)量角度的儀器,廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、建筑、航空航天、汽車(chē)制造等領(lǐng)域。它能夠自動(dòng)測(cè)量物體的角度,包括水平、垂直、傾斜等多種角度,并能提供非常精確的數(shù)據(jù)輸出。自動(dòng)測(cè)角儀的主要優(yōu)勢(shì)是能夠減少人為誤差,提高測(cè)量效率和精度。一、自動(dòng)測(cè)角儀的使用方法準(zhǔn)備工作:檢查設(shè)備:在使用前,首先檢查自動(dòng)測(cè)角儀是否完好,確保沒(méi)有損壞。檢查電池或電源是否充足,確保儀器能夠正常工作。調(diào)整設(shè)備位置:確保測(cè)量平臺(tái)或儀器的支架水平放置,避免因設(shè)備放置不...
應(yīng)力雙折射檢測(cè)是一種基于光學(xué)原理的非破壞性檢測(cè)技術(shù),該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)之一在于其非侵入式的特性。與傳統(tǒng)的機(jī)械切割或其他物理測(cè)試方法不同,不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成任何損傷,非常適合于珍貴樣品或成品的質(zhì)量監(jiān)控。即使是微小的內(nèi)部應(yīng)力也能引起明顯的雙折射現(xiàn)象,因此該方法具有較高的靈敏度。同時(shí),光學(xué)設(shè)備和算法確保了測(cè)量結(jié)果的高度準(zhǔn)確性和重復(fù)性。應(yīng)力雙折射檢測(cè)儀器的使用注意事項(xiàng):1.清潔維護(hù)-在使用過(guò)程中,要輕擦儀器的相關(guān)部件,保持干凈,以免留有其他物質(zhì)影響成像清晰度和測(cè)量精度。特別是折射棱鏡表面、...
Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于準(zhǔn)確控制測(cè)量條件、規(guī)范操作流程以及定期維護(hù)校準(zhǔn)。通過(guò)上述步驟和注意事項(xiàng),可保證測(cè)量的準(zhǔn)確性和設(shè)備壽命。1.準(zhǔn)備工作:確保設(shè)備處于良好的工作環(huán)境,溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好,連接是否正常。初次使用時(shí),需先測(cè)定0輸入對(duì)應(yīng)的功率值作為校準(zhǔn)基準(zhǔn)。2.對(duì)準(zhǔn)光路:將激光源發(fā)出的光束準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)探頭的光輸入窗口。此時(shí)應(yīng)調(diào)整光斑大小,使其占有效測(cè)量區(qū)域的40~80,以保證測(cè)量精度。例如,若探頭的有效感應(yīng)面積較大,則需通過(guò)光學(xué)元件或機(jī)械裝置...
穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)的定標(biāo)是確保系統(tǒng)準(zhǔn)確獲取光學(xué)信息的關(guān)鍵步驟,其核心在于通過(guò)已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品,對(duì)系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行精確調(diào)整與校準(zhǔn),以下為詳細(xì)介紹:一、定標(biāo)原理穆勒矩陣是描述材料對(duì)偏振光變換作用的四維矩陣,每行對(duì)應(yīng)入射偏振態(tài),每列對(duì)應(yīng)出射偏振態(tài),16個(gè)元素共同構(gòu)成材料的光學(xué)指紋。定標(biāo)過(guò)程即通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品,確定系統(tǒng)各偏振參數(shù)(如補(bǔ)償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等),使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標(biāo)步驟準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣品:選擇具有已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品,如具有明確偏振特性的晶...
Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于熱效應(yīng)探測(cè)器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體,當(dāng)激光照射時(shí),大部分光能被該材料吸收并轉(zhuǎn)化為熱量,僅有少量反射。這種高吸收率的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性基礎(chǔ)。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度,進(jìn)而在兩端之間產(chǎn)生電壓差。這一過(guò)程利用了塞貝克效應(yīng)(Seebeckeffect),即不同溫度下的導(dǎo)體或半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。產(chǎn)生的微弱電壓信號(hào)隨后由配套的電路進(jìn)行放大和處理。內(nèi)置的高精度測(cè)量電路負(fù)責(zé)接收這些模擬信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式...
激光能量計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)激光能量的高精度測(cè)量,誤差范圍小。以微焦耳甚至更小量級(jí)為單位,準(zhǔn)確量化激光輸出,這對(duì)于需要精密控制激光能量的科研和工業(yè)應(yīng)用至關(guān)重要。例如在半導(dǎo)體芯片制造的光刻工藝中,細(xì)微的激光能量差異都可能影響芯片的圖案精度,可保障每次曝光的能量準(zhǔn)確一致,提升產(chǎn)品良率。其測(cè)量量程很寬,既可以測(cè)量微弱的毫焦、微焦級(jí)別的激光能量,滿足光學(xué)通信、生物熒光檢測(cè)等低能量需求場(chǎng)景;又能應(yīng)對(duì)高能量的激光,如工業(yè)激光切割、焊接中的千瓦級(jí)激光脈沖能量測(cè)量,一臺(tái)設(shè)備可覆蓋多種不同功率水平的激...
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